場發射掃描式電子顯微鏡
          　　Field Emission Scanning Electron Microscopy

場發射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)隸屬於國立臺灣大學研究發展處儀器設備共同使用中心，2015年起本實驗室的預約系統以此網頁公告為主。提供SE(二次電子)、BSE(背散射電子)和EDS檢測分析